नकल रोकने के लिए बोर्ड की सख्ती, परीक्षा केंद्र में एंट्री से पहले होगी सघन जांच
परीक्षा में पारदर्शिता बनाए रखने और नकल पर रोक लगाने के लिए शिक्षा विभाग ने सख्त निर्देश जारी किए हैं। अब विद्यार्थी अंगूठी, माला, चेन, कड़ा, स्मार्ट वॉच, इलेक्ट्रॉनिक गैजेट या किसी भी प्रकार के आभूषण पहनकर परीक्षा केंद्र में प्रवेश नहीं कर सकेंगे।
अधिकारियों के अनुसार, कई बार छोटे इलेक्ट्रॉनिक उपकरण या ब्लूटूथ डिवाइस आभूषणों में छिपाकर नकल करने के मामले सामने आए हैं। इसी को ध्यान में रखते हुए यह फैसला लिया गया है। परीक्षा केंद्र के बाहर ही विद्यार्थियों की जांच की जाएगी और नियमों का उल्लंघन करने पर परीक्षा में बैठने की अनुमति नहीं दी जाएगी।
छात्रों को सलाह दी गई है कि वे केवल एडमिट कार्ड, पेन और जरूरी दस्तावेज ही साथ लेकर आएं। अभिभावकों से भी अपील की गई है कि वे बच्चों को नियमों की जानकारी पहले से दें ताकि परीक्षा के दिन किसी तरह की परेशानी का सामना न करना पड़े।
शिक्षा विभाग ने स्पष्ट किया है कि इन निर्देशों का उद्देश्य विद्यार्थियों को असुविधा देना नहीं, बल्कि निष्पक्ष और शांतिपूर्ण परीक्षा सुनिश्चित करना है।
